Kontakt dla przemysłu
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
Metoda ta jest oparta o absorpcję fotonów promieniowania rentgenowskiego przez badane materiały. Gdy energia promieniowania wzbudzającego zbliża się do energii wzbudzenia elektronów danego rodzaju atomów, następuje gwałtowny wzrost współczynnika absorpcji. Energia, przy której to następuje (krawędź absorpcji) jest charakterystyczna dla danego pierwiastka oraz danej powłoki elektronowej i umożliwia identyfikację składu chemicznego złożonych związków. Dzięki możliwości bardzo precyzyjnej zmiany energii promieniowania synchrotronowego, możliwa jest również obserwacja niewielkich zmian współczynnika w okolicy krawędzi absorpcji, co umożliwia badanie lokalnego otoczenia geometrycznego (odległość od najbliższych sąsiadów oraz ich ilość) oraz właściwości chemicznych (stopień utlenienia) atomów danego pierwiastka.
W zależności od wybranego sposobu detekcji, możliwe jest zebranie sygnału wyłącznie z warstwy powierzchniowej próbki, o grubości do kilku nanometrów (pomiar całkowitego prądu próbki: total electron yield) lub zebranie sygnału z objętości próbki (do kilkuset nanometrów dla miękkiego promieniowania rentgenowskiego lub kilkuset mikrometrów dla twardego promieniowania rentgenowskiego; pomiar fluorescencji lub tryb transmisyjny). Możliwe jest śledzenie zmian sygnału w czasie.
Metoda XAS jest wykorzystywana m. in. w następujących obszarach:
Metoda XAS jest dostępna na następujących liniach badawczych: ASTRA, DEMETER, PHELIX, PIRX.
W poniższej tabeli przedstawione są podstawowe parametry i ograniczenia na stanowiskach badawczych.
Linia badawcza |
Rodzaj próbek |
Zakres energii fotonów |
---|---|---|
Ciała stałe, kompatybilne z warunkami ultrawysokiej próżni |
100 – 2000 eV |
|
Ciała stałe, kompatybilne z warunkami ultrawysokiej próżni |
30 – 1500 eV |
|
Brak wymagań: możliwe badania ciał stałych, cieczy, gazów w ciśnieniu atmosferycznym, również w atmosferze reakcyjnej |
1 – 15 keV |