Widok zawartości stron
Nawigacja okruszkowa
Widok zawartości stron
Kontakt dla przemysłu
Piotr Ciochoń
tel. stacjonarny: 12 664 41 11
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl
Widok zawartości stron
Nasza oferta dla użytkowników przemysłowych składa się z technik realizowanych na trzech uruchomionych liniach badawczych: UARPES, PEEM/XAS oraz PHELIX. Do końca 2021 roku planowane jest uruchomienie dwóch kolejnych linii badawczych: XMCD oraz SOLABS, a także mikroskopu elektronowego CryoEM, co pozwoli na rozszerzenie naszej oferty o kolejne metody.
Dostępne metody podzielone są na trzy kategorie: metody spektroskopowe, dyfrakcyjne i mikroskopowe. Kliknij poniżej, by przejść do szczegółowych opisów metod.
Widok zawartości stron
Absorpcja promieniowania rentgenowskiego (X-ray absorption spectroscopy: XAS)
Metoda badania składu chemicznego, lokalnej struktury atomowej oraz stopnia utlenienia materiałów, z wykorzystaniem fotonów miękkiego lub twardego promieniowania rentgenowskiego.
Stanowiska badawcze: PEEM/XAS; SOLABS
Widok zawartości stron
Dichroizm magnetyczny (X-ray circular magnetic dichroism: XMCD
Metoda badania właściwości magnetycznych materii z czułością chemiczną, wykorzystująca różnicę w absorpcji promieniowania rentgenowskiego, o różnej orientacji polaryzacji.
Stanowiska badawcze: PEEM/XAS
Widok zawartości stron
Spektroskopia fotoelektronów (Photoelectron spectroscopy: PS)
Metoda badania struktury elektronowej oraz otoczenia chemicznego atomów metali i półprzewodników (stopień utlenienia, rodzaj wiązań), z wykorzystaniem promieniowania ultrafioletowego lub rentgenowskiego.
Stanowiska badawcze: UARPES; PHELIX
Widok zawartości stron
Metoda pomocnicza: spektroskopia elektronów Augera (Auger electron spectroscopy: AES)
Metoda badania składu materiałów oparta na pomiar energii elektronów emitowanych przez wzbudzone atomy w procesie Augera.
Stanowiska badawcze: UARPES, PHELIX, XAS
Widok zawartości stron
Metoda pomocnicza: dyfrakcja elektronów niskich energii (low energy electron diffraction: LEED)
Metoda badania stopnia i rodzaju uporządkowania powierzchni materiałów krystalicznych, identyfikacji rekonstrukcji i superstruktur powierzchniowych, określania rozmiaru domen krystalicznych.
Stanowiska badawcze: UARPES; PHELIX
Widok zawartości stron
Mikroskopia fotoelektronów (photoelectron emission microscopy: PEEM)
Metoda obrazowania struktury i składu powierzchni metali i półprzewodników, z czułością chemiczną oraz magnetyczną, umożliwiająca obserwację namagnesowania domen ferromagnetyków.
Stanowiska badawcze: PEEM/XAS
Widok zawartości stron
Już wkróce! Kriomikroskopia elektronowa (cryo - electron microscopy: cryoEM)
Metoda obrazowania próbek biologicznych i rozwiązywania struktury białek oraz innych biomolekuł, wykorzystująca do obrazowania skupioną wiązkę elektronów.
Stanowiska badawcze: cryoEM
Widok zawartości stron
Już wkrótce! Skaningowa transmisyjna mikroskopia rentgenowska (scanning tunelling x-ray microscopy: STXM)
Metoda obrazowania próbek z czułością chemiczną, wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie, umożliwiająca obrazowanie reakcji chemicznych in-situ.
Stanowiska badawcze: STXM
