Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Przemysł

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Kontakt dla przemysłu

Piotr Ciochoń
tel. stacjonarny: 12 664 41 11
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Dostępne usługi

Nasza oferta dla użytkowników przemysłowych składa się z technik realizowanych na trzech uruchomionych liniach badawczych: UARPES, PEEM/XAS oraz PHELIX. Do końca 2021 roku planowane jest uruchomienie dwóch kolejnych linii badawczych: XMCD oraz SOLABS, a także mikroskopu elektronowego CryoEM, co pozwoli na rozszerzenie naszej oferty o kolejne metody.

Dostępne metody podzielone są na trzy kategorie: metody spektroskopowe, dyfrakcyjne i mikroskopowe. Kliknij poniżej, by przejść do szczegółowych opisów metod.

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody spektroskopowe

Absorpcja promieniowania rentgenowskiego (X-ray absorption spectroscopy: XAS)

Metoda badania składu chemicznego, lokalnej struktury atomowej oraz stopnia utlenienia materiałów, z wykorzystaniem fotonów miękkiego lub twardego promieniowania rentgenowskiego.

Stanowiska badawcze: PEEM/XAS; SOLABS

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Dichroizm magnetyczny (X-ray circular magnetic dichroism: XMCD

Metoda badania właściwości magnetycznych materii z czułością chemiczną, wykorzystująca różnicę w absorpcji promieniowania rentgenowskiego, o różnej orientacji polaryzacji.

Stanowiska badawcze: PEEM/XAS

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Spektroskopia fotoelektronów (Photoelectron spectroscopy: PS)

Metoda badania struktury elektronowej oraz otoczenia chemicznego atomów metali i półprzewodników (stopień utlenienia, rodzaj wiązań), z wykorzystaniem promieniowania ultrafioletowego lub rentgenowskiego.

Stanowiska badawcze: UARPES; PHELIX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metoda pomocnicza: spektroskopia elektronów Augera (Auger electron spectroscopy: AES)

Metoda badania składu materiałów oparta na pomiar energii elektronów emitowanych przez wzbudzone atomy w procesie Augera.

Stanowiska badawcze: UARPES, PHELIX, XAS

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody dyfrakcyjne

Metoda pomocnicza: dyfrakcja elektronów niskich energii (low energy electron diffraction: LEED) 

Metoda badania stopnia i rodzaju uporządkowania powierzchni materiałów krystalicznych, identyfikacji rekonstrukcji i superstruktur powierzchniowych, określania rozmiaru domen krystalicznych.

Stanowiska badawcze: UARPES; PHELIX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody mikroskopowe

Mikroskopia fotoelektronów (photoelectron emission microscopy: PEEM)

Metoda obrazowania struktury i składu powierzchni metali i półprzewodników, z czułością chemiczną oraz magnetyczną, umożliwiająca obserwację namagnesowania domen ferromagnetyków.

Stanowiska badawcze: PEEM/XAS

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Już wkróce! Kriomikroskopia elektronowa (cryo - electron microscopy: cryoEM)

Metoda obrazowania próbek biologicznych i rozwiązywania struktury białek oraz innych biomolekuł, wykorzystująca do obrazowania skupioną wiązkę elektronów.

Stanowiska badawcze: cryoEM

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Już wkrótce! Skaningowa transmisyjna mikroskopia rentgenowska (scanning tunelling x-ray microscopy: STXM)

Metoda obrazowania próbek z czułością chemiczną, wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie, umożliwiająca obrazowanie reakcji chemicznych in-situ.

Stanowiska badawcze: STXM