Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Linie badawcze

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

PHELIX

Linia badawcza PHELIX to linia operująca w zakresie miękkiego promieniowania X, którego źródłem jest eliptycznie polaryzujący undulator. Dzięki zastosowaniu takiego źródła, linia produkuje zarówno liniową, jak i kołową lub eliptyczną polaryzację światła o wysokim natężeniu. Parametry światła linii PHELIX oraz dostępna w stacji końcowej aparatura pozwalają na przeprowadzanie spektroskopowych pomiarów fotoelektronów i absorpcji w warunkach ultra-wysokiej próżni.

Dostępny zakres energetyczny promieniowania (50 – 1500 eV) jest odpowiedni do prowadzenia badań nad wieloma materiałami używanymi np. we współczesnych urządzeniach elektronicznych, nowoczesnych katalizatorach lub ogniwach paliwowych. Stacja badawcza umożliwia pomiary fotoemisji rezonansowej (Resonant Photoemission – Res-PES), dichroizmu kołowego (Circular Dichroism – CD), spektroskopii absorpcyjnej (X-ray Absorption Spectroscopy – XAS) w modzie całkowitej fluorescencji (Total Fluorescence Yield – TFY) oraz pomiaru prądu próbki (Total Electron Yield – TEY). Jednak to, co czyni stację wyjątkową to możliwość mapowania struktury pasmowej w trzech wymiarach wektora falowego k za pomocą kątowo-rozdzielczej spektroskopii fotoelektronów (Soft X-ray Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – SX-ARPES), próbkując orbitalny moment pędu fotoelektronów (Circular Dichroic Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – CD-ARPES) oraz uzyskując wraz otrzymywaniem bezpośredniąej informacjęi o teksturze spinowej dzięki detektorowi spinowemu 3D zintegrowanemu ze spektrometrem fotoelektronów (Spin Resolved Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – SR-ARPES). 

Parametry linii

Parametry: Wartość:
Źródło Eliptycznie polaryzujący undulator EPU APPLE II
Dostępny zakres energii fotonów

40–1500 eV dla polaryzacji horyzontalnej
50–1500 eV dla polaryzacji wertykalnej
40–350 eV dla polaryzacji kołowej (100%)
50-1035 eV dla polaryzacji eliptycznej (50%)

 

Energetyczna zdolność rozdzielcza ΔE/E 10 000
Rozmiar plamki w miejscu próbki
(poziomy x pionowy)
30x80 µm2 @ 50 eV 
10x60 µm2 @ 1500 eV
Intensywność promieniowania w miejscu próbki 8.2×1012 ph/s @ 50 eV
1.4×1012 ph/s  @ 1500 eV
RP = 10 000, prąd elektronów = 500 mA
Polaryzacja Liniowa (horyzontalna, wertykalna), kołowa, eliptyczna
Stacja końcowa PHELIX