Kontakt dla przemysłu
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
Metoda ta jest oparta o pomiar różnicy absorpcji przez badany materiał fotonów promieniowania rentgenowskiego, spolaryzowanych kołowo, w kierunku prawo- lub lewo-skrętnym (dichroizm kołowy, X-ray circular magnetic dichroism: XMCD), lub spolaryzowanych liniowo, w kierunkach prostopadłych (dichroizm liniowy, X-ray linear magnetic dichroism: XMLD). Metoda ta umożliwia uzyskanie informacji na temat właściwości magnetycznych badanych materiałów. Dzięki dostrojeniu się do krawędzi absorpcji danego pierwiastka, metoda ta jest czuła chemicznie i jest techniką komplementarną do absorpcji promieniowania rentgenowskiego. W połączeniu z mikroskopią fotoelektronów PEEM pozwala na obrazowanie uporządkowania magnetycznego próbek, wykrycie i zbadanie kierunku magnetyzacji domen w ferromagnetykach.
Wariant metody uwzględniający obrazowanie magnetyczne pozwala na osiągnięcie czułości powierzchniowej, a zebrany sygnał pochodzi z warstwy o grubości do kilku nanometrów, natomiast wariant bez obrazowania pozwala na badanie zmian zachodzących w całej objętości próbki.
Metoda XMD jest wykorzystywana m. in. w następujących obszarach: