Kontakt dla przemysłu
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
dr Piotr Ciochoń
Specjalista ds. współpracy z przemysłem
tel.: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl; piotr.ciochon@uj.edu.pl
Metoda obrazowania oparta o pomiar ilości i energii fotoelektronów, wybitych przez promieniowanie rentgenowskie lub ultrafioletowe w kolejnych punktach próbki. Metoda ta umożliwia obrazowanie powierzchni materiałów z rozdzielczością rzędu kilkudziesięciu nanometrów. Dzięki czułości chemicznej, możliwe jest stworzenie mapy rozkładu pierwiastków i ich otoczeń chemicznych na powierzchni. W połączeniu z metodą XMCD (odnośnik) umożliwia również obrazowanie domen magnetycznych na powierzchni badanych związków.
Metoda jest czuła powierzchniowo i pozwala na zebranie sygnału z warstwy o grubości do kilku nanometrów.
Metoda PEEM jest wykorzystywana m. in. w następujących obszarach: