Linia eksperymentalna DEMETER - Dual Microscopy and Electron Spectroscopy Beamline Dual Microscopy and Electron Spectroscopy Beamline to linia badawcza wykorzystująca miękkie promieniowanie rentgenowskie o zmiennej polaryzacji, przeznaczona do zaawansowanych eksperymentów mikrospektroskopowych.

Wyposażenie linii eksperymentalnej stanowią dwie stacje końcowe, skaningowy transmisyjny mikroskop rentgenowski (STXM - ang. Scanning Transmission X-ray Microscope) i fotoemisyjny mikroskop elektronowy (PEEM - ang. PhotoEmission Electron Microscope), zainstalowane na dwóch gałęziach pomiarowych.  

Stacja PEEM przeznaczona jest do obrazowania nanostruktur powierzchniowych w mezoskali w czasie rzeczywistym w zakresie temperatur od -180°C do 1200°C. W mikroskopie można mierzyć próbki płaskie przygotowane zarówno ex-situ jak i in-situ. 

Szczególną zaletą mikroskopu jest możliwość jednoczesnego obrazowania z kontrastem chemicznym i magnetycznym za pomocą rentgenowskiego magnetycznego kołowego i liniowego dichroizmu (XMCD i XMLD) na odpowiednich krawędziach absorpcyjnych materiałów ferromagnetycznych i antyferromagnetycznych. 

Jednostką macierzystą dla stacji PEEM jest Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera Polskiej Akademii Nauk (IKiFP PAN). Dzięki współpracy SOLARIS z Instytutem Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera Polskiej Akademii Nauk oraz Akademią Górniczo-Hutniczą im. Stanisława Staszica w Krakowie (AGH), 2 marca 2016 r. zostało podpisane porozumienie (informacja o wydarzeniu), w ramach którego stacja końcowa PEEM jest udostępniana Użytkownikom w ośrodku synchrotronowym. W ramach tej współpracy jest także utrzymywana i rozwijana infrastruktura dla stacji końcowej oraz zapewnione jest wsparcie dla Użytkowników w czasie wykonywania pomiarów. 

IKiFP PAN oraz AGH zapraszają do współpracy Użytkowników, którym został przyznany czas badawczy na linii:

• IKiFP PAN oferuje możliwość przeprowadzenia badań uzupełniających z wykorzystaniem infrastruktury badawczej Instytutu, m.in. mikroskopu LEEM. 
• AGH oferuje możliwość przeprowadzenia pomiarów uzupełniających w laboratoriach Akademickiego Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH, m.in. pomiarów oporu, magnetooporu i ciepła właściwego w niskich temperaturach (50 mK) i wysokich polach (14 Tesli) oraz w laboratorium Zespołu Nanostruktur Powierzchniowych Wydziału Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH (m. in. pomiary pętli histerezy magnetycznej metodą magnetooptycznego efektu Kerra). 

Drugą gałąź linii DEMETER stanowi mikroskop STXM, który pozwala na obrazowanie w wysokiej rozdzielczości (lepszej niż 50 nm) oraz spektroskopię absorpcyjną promieniowania rentgenowskiego na bardzo małych powierzchniach próbek. Łącząc obrazowanie i spektroskopię, STXM umożliwia z wysoką rozdzielczością badania właściwości, takich jak skład pierwiastkowy i chemiczny, orientacja molekularna, stany utleniania, domeny magnetyczne, a także zmiany grubości. 

Parametry linii

Parametr	Wartość
Źródło	EPU (undulator)
Dostępny zakres energii fotonów	100–2000 eV (polaryzacja liniowa horyzontalna)
Energetyczna zdolność rozdzielcza ΔE/E	E/dE=3 x 103–1,5 x 104
Rozmiar plamki w miejscu próbki (poziomy x pionowy)	0,2(v) x 0,8(h) mm2
Intensywność promieniowania w miejscu próbki	~1012ph/s/0,1% bw
Polaryzacja	kołowa lewo- i prawoskrętna, liniowa pozioma i pionowa
Stacje końcowe	PEEM, STXM