Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Przemysł

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Kontakt dla przemysłu

dr Piotr Ciochoń
tel. stacjonarny: 12 664 41 93
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Dostępne usługi

Nasza oferta dla użytkowników przemysłowych składa się z technik realizowanych na pięciu liniach badawczych: URANOS (dawniej UARPES), PIRX (dawniej XAS), PHELIX, ASTRA (dawniej SOLABS) oraz DEMETER oraz na kriomikroskopie elektronowym. 

Dostępne metody podzielone są na trzy kategorie: metody spektroskopowe, dyfrakcyjne i mikroskopowe. Kliknij poniżej, by przejść do szczegółowych opisów metod.

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody spektroskopowe

Ikona promieniowania rentgenowskiegoAbsorpcja promieniowania rentgenowskiego (X-ray absorption spectroscopy: XAS)

Metoda badania składu chemicznego, lokalnej struktury atomowej oraz stopnia utlenienia materiałów, z wykorzystaniem fotonów miękkiego lub twardego promieniowania rentgenowskiego.

Stanowiska badawcze:  ASTRA, DEMETER, PHELIX, PIRX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Ikona dichroizmu magnetycznegoDichroizm magnetyczny (X-ray circular magnetic dichroism: XMCD)

Metoda badania właściwości magnetycznych materii z czułością chemiczną, wykorzystująca różnicę w absorpcji promieniowania rentgenowskiego, o różnej orientacji polaryzacji.

Stanowiska badawcze: DEMETER, PHELIX, PIRX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Ikona spektroskopii fotoelektronówSpektroskopia fotoelektronów (Photoelectron spectroscopy: PS)

Metoda badania struktury elektronowej oraz otoczenia chemicznego atomów metali i półprzewodników (stopień utlenienia, rodzaj wiązań), z wykorzystaniem promieniowania ultrafioletowego lub rentgenowskiego.

Stanowiska badawcze: URANOS; PHELIX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Ikona metody pomocniczej spektroskopii elektronów AugeraMetoda pomocnicza: spektroskopia elektronów Augera (Auger electron spectroscopy: AES)

Metoda badania składu materiałów oparta na pomiar energii elektronów emitowanych przez wzbudzone atomy w procesie Augera.

Stanowiska badawcze: DEMETER, URANOS, PHELIX, PIRX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody dyfrakcyjne

Ikona metody pomocniczej dyfrakcji elektronów niskich energii Metoda pomocnicza: dyfrakcja elektronów niskich energii (low energy electron diffraction: LEED) 

Metoda badania stopnia i rodzaju uporządkowania powierzchni materiałów krystalicznych, identyfikacji rekonstrukcji i superstruktur powierzchniowych, określania rozmiaru domen krystalicznych.

Stanowiska badawcze: DEMETER, PIRX, URANOS, PHELIX

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Metody mikroskopowe

Ikona mikroskopii fotoelektronówMikroskopia fotoelektronów (photoelectron emission microscopy: PEEM)

Metoda obrazowania struktury i składu powierzchni metali i półprzewodników, z czułością chemiczną oraz magnetyczną, umożliwiająca obserwację namagnesowania domen ferromagnetyków.

Stanowiska badawcze: DEMETER

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Ikona kriomikroskopii elektronowejKriomikroskopia elektronowa (cryo - electron microscopy: cryoEM)

Metoda obrazowania próbek biologicznych i rozwiązywania struktury białek oraz innych biomolekuł, wykorzystująca do obrazowania skupioną wiązkę elektronów.

Stanowiska badawcze: cryoEM

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Ikona skaningowej transmisyjnej mikroskopii rentgenowskiejSkaningowa transmisyjna mikroskopia rentgenowska (scanning transmission x-ray microscopy: STXM)

Metoda obrazowania próbek z czułością chemiczną, wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie, umożliwiająca obrazowanie reakcji chemicznych in-situ.

Stanowiska badawcze: DEMETER