Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Przemysł

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Kontakt dla przemysłu

Piotr Ciochoń
tel. stacjonarny: 12 664 41 11
e-mail: industry.solaris@uj.edu.pl

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Dyfrakcja elektronów niskich energii (low energy electron diffraction: LEED)

Metoda LEED jest metodą pomocniczą/laboratoryjną. Jest oparta o elastyczne rozpraszanie wiązki niskoenergetycznych elektronów przez materiały krystaliczne. Umożliwia badanie symetrii i określenie struktury powierzchni, w tym analizę wielkości domen krystalicznych, czy strukturę adsorbatów.

Technika charakteryzuje się czułością powierzchniową, a sygnał zbierany jest z kilku warstw atomowych najbliżej powierzchni próbki. Jest metodą pomocniczą dla metod spektroskopowych: PS, XAS i umożliwia identyfikację faz powierzchniowych materiałów krystalicznych.

Metoda LEED jest wykorzystywana m. in. w następujących obszarach:

  • elektronika (struktura powierzchni półprzewodników, struktura atomów zaadsorbowanych na powierzchni, pasywacja półprzewodników)
  • inżynieria powierzchni (wzrost cienkich warstw krystalicznych, zmiany strukturalne powierzchni pod wpływem temperatury lub obecności obcych atomów).

Metoda LEED dostępna jest na stanowiskach badawczych:

Na obydwu liniach możliwe jest badanie jedynie ciał stałych, kompatybilnych z warunkami ultrawysokiej próżni. Dodatkowo, badane materiały muszą mieć strukturę kryształu.