Linia badawcza XAS (X-ray absorption spectroscopy) wykorzystuje promieniowanie synchrotronowe emitowane przez magnes zakrzywiający i jest dedykowana do pomiarów mikroskopowych i spektroskopowych w zakresie miękkiego promieniowania rentgenowskiego.

Linia pozwala na zaawansowane badania właściwości chemicznych i elektronowych, strukturalnych oraz magnetycznych, wykorzystując odpowiednio: zjawisko rezonansowej absorpcji rentgenowskiej, zjawiska naturalnego dichroizmu liniowego (XNLD) oraz magnetycznego dichroizmu kołowego (XMCD) i liniowego (XMLD). Dostępne techniki eksperymentalne pozwalają na selektywne badanie powierzchni, warstw granicznych, cienkich warstw i nanomateriałów z czułością pierwiastkową. Dostępny zakres energii fotonów (od 100 do 2000 eV) pokrywa krawędzie absorpcji K lekkich pierwiastków, od węgla do krzemu, krawędzie L pierwiastków o liczbie atomowej Z od 20 do 40, a także krawędzie M wielu cięższych atomów.

Oferowana stacja badawcza to:

• ​uniwersalna stacja do badania widm absorpcji rentgenowskiej (XAS).

Użytkownicy mogą aplikować o czas pomiarowy z wykorzystaniem stacji badawczej XAS. Pomiary mogą być wykonywane w różnych warunkach skupiania wiązki fotonów oraz środowiska próbki. Przygotowując swój eksperyment, użytkownicy powinni zapoznać się ze stroną internetową opisującą stację pomiarową.

Zastosowania:

Linia XAS może być wykorzystywana w takich dziedzinach jak szeroko pojęta nauka o materiałach, fizyka, chemia, nauki o ziemi, nauki biologiczne i medyczne.

Zachęcamy do kontaktowania się z zespołem linii badawczej, aby przed złożeniem wniosku pomiarowego przedyskutować techniczną możliwość przeprowadzenia eksperymentów.

Linia powstała dzięki współpracy SOLARIS z Instytutem Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera Polskiej Akademii Nauk oraz Akademią Górniczo-Hutniczą im. Stanisława Staszica w Krakowie. Odpowiednie porozumienie zostało podpisane 2 marca 2016 r. (informacja o wydarzeniu). 

Użytkowników, którym został przyznany czas badawczy na linii, IKiFP oraz AGH zapraszają do współpracy: 

• Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni PAN oferuje możliwość przeprowadzenia badań uzupełniających z wykorzystaniem infrastruktury badawczej Instytutu, m.in. mikroskopu LEEM.
• Akademia Górniczo-Hutnicza oferuje możliwość przeprowadzenia pomiarów uzupełniających w laboratoriach Akademickiego Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH, m.in. pomiarów oporu, magnetooporu i ciepła właściwego w niskich temperaturach (50 mK) i wysokich polach (14 Tesli) oraz w laboratorium Zespołu Nanostruktur Powierzchniowych Wydziału Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH (m. in. pomiary pętli histerezy magnetycznej metodą magnetooptycznego efektu Kerra).

Parametry linii:

Źródło	Magnes zakrzywiający (1,31 T)
Dostępny (optymalny) zakres energii fotonów	100–2000 eV (300–1600 eV)
Energetyczna zdolność rozdzielcza ΔE/E	Nie gorsza niż 2,5 x 10-4
Rozmiar plamki w miejscu próbki (poziomy x pionowy)	200 μm x 50 μm
Intensywność promieniowania w miejscu próbki	109-1010 [fotonów/s/0.1 A]
Polaryzacja	Liniowa (pozioma) oraz eliptyczna
Stacja badawcza absorpcyjnej spektroskopii rentgenowskiej XAS	XAS, XMCD, XMLD, pomiar prądu próbki [TEY] w zewnętrznym polu magnetycznym (140 mT) i zmienną temperaturą próbki (20-670 K). Dostępny jest także częściowy prąd uzysku elektronów jako tryb detekcji dla słabo przewodzących próbek, przy wykorzystaniu powielacza elektronowego (channeltron) oraz detektora fluorescencyjnego (rodzaj: silicon drift detector).